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DRK-G302顆粒圖像分析儀將傳統(tǒng)的測(cè)量方法與現(xiàn)代的圖像技術(shù)相結(jié)合，是一種采用圖像法進(jìn)行顆粒形貌分析和粒度測(cè)量的顆粒分析系統(tǒng)，由光學(xué)顯微鏡、數(shù)字CCD攝像機(jī)和顆粒圖像處理分析軟件組成。
DRK-G302顆粒圖像分析儀將傳統(tǒng)的測(cè)量方法與現(xiàn)代的圖像技術(shù)相結(jié)合，是一種采用圖像法進(jìn)行顆粒形貌分析和粒度測(cè)量的顆粒分析系統(tǒng)，由光學(xué)顯微鏡、數(shù)字CCD攝像機(jī)和顆粒圖像處理分析軟件組成。該系統(tǒng)通過(guò)專用的數(shù)字?jǐn)z像機(jī)將顆粒在顯微鏡下的圖像拍攝下來(lái)傳輸給電腦，通過(guò)專用的顆粒圖像處理分析軟件對(duì)圖像進(jìn)行處理分析，具有直觀、形象、準(zhǔn)確和測(cè)試范圍寬等特點(diǎn)?？梢杂^察顆粒形貌，也可得到粒度分布等分析結(jié)果。
DRK-G302顆粒圖像分析儀融合了當(dāng)今先進(jìn)的圖像處理和分析技術(shù)，產(chǎn)品設(shè)計(jì)符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO-13322-1，可完成幾十項(xiàng)顆粒幾何形態(tài)學(xué)的參數(shù)測(cè)量和圖像幾何形狀的測(cè)量。軟件同時(shí)配備專用的數(shù)據(jù)報(bào)表，可直接按顆粒的粒徑面積、形狀等多類參數(shù)，以線性或非線性統(tǒng)計(jì)方式繪出分布圖。
技術(shù)參數(shù)：
1、量程范圍：0.5～3000μm；
2、放大倍數(shù)：＞5000倍。
3、顯微鏡：光學(xué)顯微鏡
4、最大分辨率：0.1μm/像素；
5、重復(fù)性誤差：＜1%；
6、數(shù)字?jǐn)z像機(jī)（CCD）：500萬(wàn)像素，攝像頭密閉在殼體內(nèi)，具有防污染功能，并且保障了接口安全穩(wěn)定性。；
7、自動(dòng)分割速度：≤1秒；
8、分割成功率：≥97%；
9、干粉分散器（選配）
應(yīng)用范圍：
適用于磨料、涂料、非金屬礦、化學(xué)試劑、粉塵、填料等各種粉末顆粒的粒度測(cè)量、形貌觀察和分析。
軟件功能：
1、可以對(duì)圖像進(jìn)行多種處理。如：影像增強(qiáng)、圖像疊加、局部提取、定倍放大、對(duì)比度、亮度調(diào)節(jié)等幾十種功能
2、具有圓度、曲線、周長(zhǎng)、面積、直徑等幾十種幾何參數(shù)的基本測(cè)量
3、可直接按顆粒粒徑的粒徑面積、形狀等多類參數(shù)，以線性或非線性統(tǒng)計(jì)方式繪出分布圖
數(shù)據(jù)輸出：
周長(zhǎng)分布、面積分布、長(zhǎng)徑分布、短徑分布、周長(zhǎng)相當(dāng)徑分布、面積相當(dāng)徑分布、Feret徑分布、圓度、中間徑（D50）、有效粒徑（D10）、限定粒徑（D60）、D30、D97、個(gè)數(shù)長(zhǎng)度平均徑、個(gè)數(shù)面積平均徑、個(gè)數(shù)體積平均徑、長(zhǎng)度面積平均徑、長(zhǎng)度體積平均徑、面積體積平均徑、不均勻系數(shù)、曲率系數(shù)。
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